產(chǎn)品分類(lèi)
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簡(jiǎn)要描述:數(shù)字化抗干擾/變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能,確保不接地設(shè)備不允許操作啟動(dòng)測(cè)試。
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一、概 述
HTJSY-C變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損測(cè)試電橋,可變頻調(diào)壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz,采用數(shù)字陷波技術(shù),避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾,從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗。
數(shù)字化抗干擾/變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀
儀器主要具有如下特點(diǎn):
?超大液晶中文顯示
操作簡(jiǎn)單,儀器配備了全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界面,每過(guò)程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個(gè)過(guò)程的測(cè)量,是目前非常理想的智能型介損測(cè)量設(shè)備。
?海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器,保存數(shù)據(jù)200組,能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存,隨時(shí)可以查看歷史記錄,并可以打印輸出。
?科學(xué)*的數(shù)據(jù)管理
儀器數(shù)據(jù)可以通過(guò)U盤(pán)導(dǎo)出,可在任意一臺(tái)PC機(jī)查看和管理數(shù)據(jù)。
?多種測(cè)試模式
儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試;在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓正接法情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。
?不拆高壓引線測(cè)量CVT
儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測(cè)量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。
?CVT反接屏蔽法測(cè)量C0
儀器可采用反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。
?高速采樣信號(hào)
儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制,輸出電壓連續(xù)可調(diào)。
?多重保護(hù)安全可靠
儀器具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能,確保不接地設(shè)備不允許操作啟動(dòng)測(cè)試?,F(xiàn)場(chǎng)誤接電源380V,具有報(bào)警功能,可保護(hù)儀器不損壞。
?CVT測(cè)試一步到位
該儀器還可以測(cè)試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差。
?LCR全自動(dòng)測(cè)量
全自動(dòng)電感、電容、電阻測(cè)量,角度顯示。
二、工作原理
數(shù)字化抗干擾/變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。
圖 2—1 測(cè)量原理圖
三、主要技術(shù)參數(shù)
1使用條件-15℃∽40℃RH<80%
2抗干擾原理變頻法
3電 源AC 220V±10%允許發(fā)電機(jī)
4高壓輸出0.5KV∽10KV每隔0.1kV
精 度2%
最大電流 200mA
容 量2000VA
5自激電源AC 0V∽50V/15A單 頻 50.0HZ、60.0HZ
自動(dòng)雙變頻
45.0HZ/55.0HZ 47.5HZ/52.5HZ
55.0HZ/65.0HZ 57.5HZ/62.5HZ
6分 辨 率tgδ: 0.001%Cx: 0.001pF
7精 度△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)
8測(cè)量范圍tgδ無(wú)限制
C x15pF < Cx < 300nF
10KVCx < 60nF
5KVCx < 150nF
1KVCx < 300nF
CVT測(cè)試Cx < 300nF
9LCR測(cè)量范圍電感L>20H(2kV) 電阻R>10KΩ(2kV)
LCR測(cè)量精度1%角度分辨率0.01
10CVT變比范圍10∽10000
CVT變比精度1%CVT變比分辨率0.01
11外型尺寸(主機(jī)(mm)350(L)×270(W)×270(H)
外型尺寸(附件)(mm)350(L)×270(W)×160(H)
12存儲(chǔ)器大小200 組 支持U盤(pán)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
13重量(主機(jī))22.75Kg
重量(附件箱)5.25Kg